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| 产品名称： 微焦斑XRF光谱仪FT230 |
产品简介：
微焦斑XRF光谱仪FT230
产品亮点：
FT230的每一个部分都是为了大幅减少分析时间而设计的。
- 自动聚焦减少样品装载时间
- Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
- 屏幕大部分区域用来显示样品视图，提供了极佳的可视度
- 自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
- 与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
- 由于采用了新的用户界面，非专业人员也能直观、方便地使用
- 功能强大，可同时测量四层镀层也可分析基质
- 经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
- 符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
- 帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求
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FT230 台式 XRF 分析仪
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元素范围
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铝 (13) - 铀 (92)
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探测器
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硅漂移探测器 (SDD)
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样品台设计
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开槽和闭合
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XY 样品台设计
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电动或固定
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XY 样品台行程
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250 x 200 mm
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电动Z轴行程
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205 mm
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最大样品尺寸
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500 x 400 x 150 mm
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直准器数量
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4
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焦点激光
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包含在标准配置内
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自动对焦
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可选
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广角摄像机
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可选
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距离无关测量
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可选
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Find My Part™ 智能识别功能
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可选
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镀层测量
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