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产品名称 Scios 双束电子显微镜
产品简介
Scios™ 是一款超高分辨率DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。
 
高级检测技术是Scios 的核心技术。透镜内Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号,既节省了时间还能形成鲜明的对比度,从而有助于采集尽可能多的数据。创新的透镜下同心后散射检测器能提高效率,使您可以根据信号的角分布选择信号,从而轻松分离材料和形态对比度,即使着陆能量为20 eV 也是如此。
 
Scios 的材料科学应用
Scios DualBeam 特别适合用于金属、复合物和涂层等众多材料,能够: 
l 执行高分辨率、高对比度成像,对磁性样本也不例外 
l 使用独有的Trinity 检测套件同步检测材料、形态和边缘对比度,从而分析材料的全部属性 
l 借助漂移抑制光刻,无需制备样本即可制作具有位置特异性的切片,甚至可以对非导电材料进行操作 
l 生成三维数据立方体确定金属中夹杂物的大小和分布,或对裂纹尖端各个方向的应力和应变进行分析 
l 搭配EasyLift™ 可快速可靠地制备高质量样本,而且只需最小的电子束能量即可获得最高质量的S/TEM 结果 
l 针对DealBeam TM 常见应用提供独有的“用户指南”和逐步工作流,使得任何经验水平的操作员都能即刻上手
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